PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统

 透射电子显微镜原位TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。
         透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统是在标配的STM-TEM样品杆上集成低温环境控制单元，从而实现在透射电镜中进行原位低温电学测量的目的。

性能指标
 
透射电镜指标：
● 兼容*电镜型号及较靴；
● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于较靴间距）；
● 保证透射电镜原有分辨率。
 
电学测量指标：
● 包含一个电流电压测试单元；
● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；
● 电流分辨率：优于100 fA；
● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；
● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。
 
扫描探针操纵指标：
● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；
● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；
● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。
 
光纤指标：
● 光纤外径250 um，保证电镜系统真空指标；
● 可选光纤探针、平头光纤、光纤透镜；
● 可选SMA接头、FC接头。
 
产品特色
（1）采用双向光纤，可应用于CL光谱、光电探测及电致发光光谱等研究；
（2）光电一体化解决方案，具有高拓展性；
（3）高稳定性，保证电镜原有分辨率。