PicoFemto透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统

      透射电子显微镜原位TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。
透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统是在标配STM-TEM样品杆内集成纳牛力传感器，实现高精度的力学及电学测量。

性能指标
 
 透射电镜指标：
● 兼容*电镜型号及较靴；
● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于较靴间距）；
● 保证透射电镜原有分辨率。
 
电学测量指标：
● 包含一个电流电压测试单元；
● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；
● 电流分辨率：优于100 fA；
● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；
● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。
 
扫描探针操纵指标：
● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；
● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；
● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。
 
力学传感器指标：
● 悬臂梁弹性范围1 N/m~100 N/m；
● 载荷分辨率优于5 nN（使用1 N/m悬臂梁时）；
● 自动测量力-距离曲线，自动保存。
 
产品特色
 
（1）可保证电镜原有分辨率，即使在球差内也可以拍到清晰原子像；
（2）良好的操纵稳定性，压电陶瓷驱动方式，保证高精度的操纵。样品杆具有很高的稳定性  ，探针移动平稳，实现高分辨原位观察实验；
（3）操作简便，软件界面友好易操作。控制器集成电流电压测试单元，满足大多数实验需求。位移粗调和细调全软件操作；
（4）力电一体化解决方案，力学和电学配置可满足大部分测试需求。